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日本alnair labs帶寬可變濾光片CYF-300CL 光學測量儀

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更新日期:2024-03-23

簡要描述:

日本alnair labs帶寬可變濾光片CYF-300CL
半寬波長可調濾光片可實現 1500 dB/nm (12 dB/GHz) 的超陡邊滾降。 邊緣特性適用于切斷DWDM通道并在放大后消除帶外ASE噪聲。

日本alnair labs帶寬可變濾光片CYF-300CL 光學測量儀
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產地進口

日本alnair labs帶寬可變濾光片CYF-300CL

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特征

銳普濾波邊緣
半寬波長可調濾光片可實現 1500 dB/nm (12 dB/GHz) 的超陡邊滾降。 邊緣特性適用于切斷DWDM通道并在放大后消除帶外ASE噪聲。

從0.03nm到3nm的連續可變,半價 3dB帶寬最薄時為30pm(3.7GHz),連續可變至3nm(370GHz),使其成為具有超窄帶寬的靈活濾波器。 通過與標準具結合使用,還可以切割出數百MHz的光梳線。

規格 



日本alnair labs帶寬可變濾光片CYF-300CL

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